高低温半自动探针台是一种用于数学领域的分析仪器，为晶片、器件和材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等）提供真空和高低温测试条件下进行非破坏性的电学表征和测量平台。在不同测试环境、不同温度条件下可对微结构半导体器件、微电子器件及材料进行电学特性表征测试。可以对材料或器件进行电学特性测量、光电特性测量、参数测量、高阻测量、DC测量、RF测量和微波特性测量，广泛应用于半导体工业（芯片、晶圆片、封装器件）、MEMS、超导、电子学、物理学和材料学等领域。高低温半自动探...

半导体测试设备是一种用于电子与通信技术领域的电子测量仪器，半导体制造是人类迄今为止掌握的工业技术难度Z高的生产环节，是先进制造领域上的一颗钻石。随着半导体技术不断发展，芯片线宽尺寸不断减小，制造工序逐渐复杂。目前国际上7nm制程已进入产业化阶段，需要近2000道工序，先进的制程和复杂的工序将持续提升对于先进设备的需求。集成电路检测根据工艺所处的环节可以分为设计验证、前道量检测和后道检测。集成电路芯片的生产主要分为IC设计、IC前道制造和IC后道封装测试三大环节，狭义上对集成电...

uf200探针台是一种用于生物学领域的电子测量仪器，专为通用逻辑装置而设计，支持对8英寸及8英寸以下晶圆进行自动测试，支持200um薄片的测试，测试温度范围从室温到150度。它不仅继承了UF200的基本概念，同时进一步采用了新技术的架构。可以提供晶圆OCR自动识别，自动控制、与测试机联动对8英寸及8英寸以下晶圆进行自动测试的筛选。一、产品特点：1、它可执行5至8英寸晶圆的传输与针测。2、采用和UF2000相同的MMI。3、多种选择，可达成所有非业界标准种类的晶圆针测。4、增加...

一、探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。二、特性：1、OTS-最近的位置对正系统(光学目标对准)OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其绝对位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技术。OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。2、QPU-高刚性的硅片承载台(四方型系统)为了有效的达到接触位置的精度，硅片承载台各部分的刚性一致是非常重...

射频探针是我们在测试时不可少的工具，主要用于电子测试设备，对硅片、管芯及开放式微芯片中的电子电路射频（RF）信号进行测量，还用于连接器组件中窄间距或高密度射频互连应用。射频应用中使用的传输线一般为与电路板连接的同轴线缆，以及设置于电路板内部的微带线。在对待测电路进行测试时，需要经传输线向该待测电路发送信号。它至少需要两种导体，一种为信号导体，另一种为接地导体。这些导体的结构决定了待测电路测试所需的探针类型。探针结构分为GS（接地-信号）、GSG（接地-信号-接地）以及GSSG...

一、探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上，从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件undefined，这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入最终产品的信息。它还使制造商能够在封装之前测试管芯，这在封装成本相对于器件成本高的应用中很重要。探针台还可以用于研发、产品开发和故障分析应用。二、探针台主要用于晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节，负责...

opus探针台通过与测试仪器的配合，探针台将参数特性不符合要求的芯片记录下来，在进入后序工序前予以剔除，大大降低器件的制造成本。被广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量，并缩减了研发时间和器件制造工艺的成本。主要用于晶圆制造环节的晶圆检测、芯片研发和故障分析等应用。如何工作？它可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针jian端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针jian端都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行...

手动探针台是广泛应用于半导体行业的综合经济型测试仪器，主要用于半导体芯片的电参数检测。以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能（如电流、电压、阻抗等）或工作状态，测试人员一般会采用表笔去点测。随着电子技术的不断发展，对于精密微小（纳米级）的微电子器件，表笔点到被测位置就显得无能为力了。于是一种高精度探针座应运而生，利用高精度微探针将被测原件的内部讯号引导出来，便于其电性测试设备（不属于本机器）对此测试、分析。首先我们先来了解什么是探针台？它是一种辅助执行机构，测试人员把需...